Riassunto di Principles of Electron Microscopy and Applications to Nanomaterials Research

Esporta

Principi di Microscopia Elettronica e Applicazioni alla Ricerca sui Nanomateriali

Prof. Giovanni Maria Vanacore

Inglese

Il corso si propone di fornire un'introduzione alle principali tecniche di microscopia elettronica con applicazioni ai nanomateriali.

Verranno trattati i seguenti argomenti:

Introduzione all'ottica elettronica: natura ondulatoria degli elettroni; interazione elettrone-materia; schema di base di un microscopio.
Microscopia elettronica a trasmissione (TEM): modalità di imaging, diffrazione e cristallografia; contrasti di ampiezza e fase nel TEM; modalità operative avanzate: TEM ad alta risoluzione, TEM magnetico, Scanning-TEM.
Microscopia Elettronica a Scansione (SEM): layout di un microscopio SEM; contrasto elettronico secondario e modalità di imaging.
Tecniche di Spettroscopia di Elettroni in TEM/SEM: Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS); Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS); Chathodoluminescence (CL); Auger Electron Spectroscopy (AES).
Investigazione TEM/SEM di nanomateriali per applicazioni elettroniche, fotoniche e fononiche.

1 CFU/8 ore

Marzo 2025

ISTRUZIONE DI QUALITÁ | IMPRESE, INNOVAZIONE E INFRASTRUTTURE

Esporta

Principles of Electron Microscopy and Applications to Nanomaterials Research

Prof. Giovanni Maria Vanacore

English

The course aims at providing an introduction to the main techniques of electron microscopy with applications to materials.

The following topics will be discussed:

Introduction to electron optics: wave-nature of electrons; electron-matter interaction; basic layout of a microscope.
Transmission Electron Microscopy (TEM): imaging modes (bright and dark field), diffraction and crystallography; amplitude and phase contrasts in TEM; advanced modes of operation: High- Resolution TEM, magnetic TEM, and Scanning TEM.
Scanning Electron Microscopy (SEM): layout of a SEM microscope; secondary electron contrast and imaging modes.
Electron Spectroscopies in TEM/SEM: Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS); Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS); Chathodoluminescence (CL); Auger Electron Spectroscopy (AES).
TEM/SEM investigation of nanomaterials for electronic, photonic and phononic applications.